果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺(tái)、光學(xué)冷熱臺(tái)、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺(tái)、超高溫?zé)崤_(tái)、高低溫試驗(yàn)箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測(cè)試、變溫D33等測(cè)試系統(tǒng)。

掃描電鏡是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器 。具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。目前, 掃描電鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。

掃描電鏡冷熱臺(tái)（SEM冷熱臺(tái)）是一種專門設(shè)計(jì)用于在掃描電子顯微鏡（SEM）中對(duì)樣品進(jìn)行原位變溫測(cè)試的裝置。掃描電鏡冷熱臺(tái)，作為現(xiàn)代材料科學(xué)研究中的設(shè)備，其重要性和實(shí)用性已經(jīng)得到了廣泛的認(rèn)可。

果果儀器 SEM冷熱臺(tái)是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上（無(wú)需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測(cè)試的電鏡附件。通過(guò)外接法蘭裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)冷熱臺(tái)上的樣品進(jìn)行控溫，主要有以下功能：

>> 原位變溫測(cè)試：SEM冷熱臺(tái)能夠在不改造電鏡內(nèi)部的情況下，直接安裝在掃描電子顯微鏡（SEM）的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)上，提供樣品的原位變溫測(cè)試。這種設(shè)計(jì)使得研究者可以在高低溫環(huán)境下觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而獲得材料相變過(guò)程的直接證據(jù)。

>> 高低溫結(jié)構(gòu)研究：該設(shè)備支持-190℃至200℃的溫控范圍，滿足各種高低溫材料的相變微觀表征需求。例如，在-50℃的低溫下觀察鎵樣品，可以揭示其在低溫條件下的結(jié)構(gòu)特性。

>> 精確控溫：SEM冷熱臺(tái)采用PID溫控方式，溫度穩(wěn)定性可達(dá)±0.1℃，并具備可編程階梯控溫能力。這種高精度的溫度控制確保了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。

>> 快速升降溫：通過(guò)電熱和液氮致冷技術(shù)，SEM冷熱臺(tái)能實(shí)現(xiàn)快速升降溫，最大速率可達(dá)60℃/min。這使得研究者能夠迅速改變樣品溫度，捕捉更多瞬態(tài)變化信息。

>> 電鏡無(wú)縫對(duì)接：該設(shè)備適配蔡司、日立等主流掃描電鏡品牌，同時(shí)也可適配國(guó)儀量子、中科科儀等國(guó)產(chǎn)品牌，安裝和拆卸過(guò)程簡(jiǎn)單，不影響電鏡原有的使用功能。這為不同設(shè)備的用戶均提供了便利。

>> 高質(zhì)量圖像獲取：即使在較大的電子束流下，SEM冷熱臺(tái)也能保證高質(zhì)量的圖像獲取，這有助于研究者獲得更清晰的微觀結(jié)構(gòu)圖像。

>> 多樣化的應(yīng)用場(chǎng)景：除了基礎(chǔ)的變溫觀察，SEM冷熱臺(tái)還可以應(yīng)用于諸如電池電極材料在不同溫度下的性能測(cè)試等多樣化場(chǎng)景。

根據(jù)客戶需求，果果儀器定制SEM冷熱臺(tái)適配蔡司掃描電子顯微鏡（SEM）對(duì)樣品進(jìn)行原位變溫測(cè)試（實(shí)現(xiàn)平面與截面不同方位的觀察）。

↑ 定制SEM冷熱臺(tái) ↑

↑ 定制外接法蘭 ↑

產(chǎn)品主要參數(shù)：

1、溫度范圍：-55℃～260℃；

2、溫度穩(wěn)定性：±0.1℃；

3、升降溫速度：0～30℃/min；

4、樣品臺(tái)與SEM匹配良好，樣品臺(tái)在SEM下成像穩(wěn)定。
    適配設(shè)備：掃描電鏡。

除按需定制的冷熱臺(tái)之外，果果儀器推出的SEM冷熱臺(tái)SCH200可適配多品牌掃描電鏡（SEM），結(jié)構(gòu)緊湊，方便拆裝。該產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~200℃或RT~1500℃的變溫環(huán)境。

↑ SEM冷熱臺(tái) SCH200 ↑

↑ 與國(guó)儀量子掃描電鏡（SEM3200）配套工作，進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 ↑