原位拉伸臺(tái)是一種用于掃描電子顯微鏡（SEM）中的設(shè)備，它能夠在微觀層面上對(duì)材料進(jìn)行動(dòng)態(tài)拉伸測(cè)試，并實(shí)時(shí)觀察和記錄材料的變形和斷裂過(guò)程。適用于多種材料的研究，包括金屬、高分子材料、陶瓷材料等。它在材料科學(xué)前沿研究中發(fā)揮了重要作用，特別是在研究材料的韌斷過(guò)程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形等方面。
1.動(dòng)態(tài)觀察與分析：在SEM下進(jìn)行材料試驗(yàn)，可以充分利用SEM的景深、高空間分辨和分析功能，在微觀層面上對(duì)材料的力學(xué)性能進(jìn)行動(dòng)態(tài)研究。通過(guò)SEM對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)變化進(jìn)行原位成像，從而深入理解形態(tài)變化的原因并對(duì)變化時(shí)刻進(jìn)行成像。
2.多場(chǎng)耦合條件下的研究：除了基本的拉伸測(cè)試外，拉伸臺(tái)還可以結(jié)合加熱或冷卻模塊，實(shí)現(xiàn)力熱耦合條件下的原位分析。這對(duì)于研究材料在不同溫度和應(yīng)力條件下的行為具有重要意義。
此外，原位拉伸臺(tái)還具有以下特點(diǎn)：
1.大載荷范圍：根據(jù)不同型號(hào)，載荷范圍可從mN到5000N不等。
2.高精度：配備高精度的真空光柵尺，保證位移精度達(dá)到20nm。
3.靈活的操作方式：支持恒力或恒速方式進(jìn)行拉伸、壓縮，或者按程序段進(jìn)行往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
原位拉伸臺(tái)的設(shè)計(jì)考慮到了與SEM掃描電鏡的兼容性，無(wú)需改造電鏡內(nèi)部結(jié)構(gòu)，只需通過(guò)定制外接法蘭裝置即可實(shí)現(xiàn)連接。此外，它還配備了上位機(jī)軟件，方便用戶進(jìn)行溫度、力學(xué)參數(shù)的設(shè)置及數(shù)據(jù)采集。
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